1樓：數碼王子胖
以研究礦物組成、查明某些元素賦存狀態、確定礦物名稱及其分子式為目的的分析過程，稱單礦物分析。
基本介紹。以研究礦物組成、查明某些元素賦存狀態、確定礦物名稱及其分子式為目的的分析過程，稱單礦物分析。隨著礦物痕量元素地球化學特徵研究的發展，分析專案已由主、次量元素擴充套件到主、次、痕量元素。
詳細介紹。礦物成分的複雜多變而無定型分析流程，以及可供分析的試樣多在毫克量級甚至微克量級，是單礦物分析的難題。早期，單礦物分析以化學分析法為主，20世紀80年代後逐步發展成為多手段的綜合分析技術。
主要有微量試樣化學分析、等離子體光譜/質譜、x射線螢光光譜、中子活化，以及包括電子探針、掃瞄離子探針等在內的微區分析技術。儀器分析的笑派引入對微量樣讓**、批量分析和建立快速流程有重要作用。分離富集技術不僅解決測定中的幹碰滑賀擾等問題，而且使試樣利用率倍增，應予特別關注。
電子探針可以做哪些分析
2樓：教育學堂
電顫此橡子探針分析如下：
利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數。分析前要根據試驗目的製備樣品，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的x射線強度。
1、點分析：
用於測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素的特徵x射線訊號同時檢測和顯示。
不像波譜儀那樣要做全部譜掃瞄，甚至還要更換分光晶體。
2、線分析：
用於測定某種元素沿給定直線分佈的情況。方法是將x射線譜儀（波譜儀或能譜儀）固定在所要測量的某元素特徵x射線訊號（波長或能量）的位置上，把電子束沿著指定的方向做直線軌跡掃瞄，便可得到該元素沿直線特徵x射線強度的變化，從而反映了該元素沿直線的濃度分佈情況。
3、面分析：
用於測定某種茄旁元素的面分布情況。方法是將x射線譜儀固定在所要測量的某元素特徵x射線訊號的位置上，電子束在樣品表面做光柵掃瞄，此時在螢光屏上便可看到該元素的面分佈影象。顯扒爛像管的亮度由試樣給出的x射線強度調製。
影象中的亮區表示這種元素的含量較高。
電子探針技術在礦物學中的應用
3樓：波斯貓
電子探針技術在礦物學中的應用如下：電子探針有三種基本工作方式：點分析用於選定點的全譜定性分析或定量分析，以及對其中所含元素進行定量分析；線分析用於顯示元素沿選定直線方向上的濃度變化；面分析用於觀察元素在選定微區內濃度分佈。
由莫塞萊定律可知，各種元素的特徵x射線都具有各自確定的波長，通過探測這些不同波長的x射線來確定樣品中所含有的元素，這就是電子探針定性分析的依據。而將被測樣品與標準樣品中元備餘巖素y的衍射強度進行對比，就能進行電子探針的定量分析。當然利用電子束激發的x射線進行元素分析，其前提是入射電子束的能量必毀輪須大於某元素原子的內層電子臨界電離激發能。
電子探針的最早應用領域是金屬學。對合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析，直觀而方仿御便，還能較準確地測定元素的擴散和偏析情況。此外，它還可用於研究金屬材料的氧化和腐蝕問題，測定薄膜、滲層或鍍層的厚度和成分等，是機械構件失效分析、生產工藝的選擇、特殊用材的剖析等的重要手段。
圖2為鎂合金中稀土氧化物在晶界析出的電子探針分析**。
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